技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES在材料科學(xué)與工程的世界里,物質(zhì)的宏觀性能——強(qiáng)度、導(dǎo)電性、光學(xué)響應(yīng)、催化活性——無(wú)一不被其微觀晶體結(jié)構(gòu)所深刻支配。同樣的化學(xué)成分,因原子排列方式的不同(如石墨與金剛石),可以呈現(xiàn)天壤之別的物理與化學(xué)特性。如何“看見”原子在空間中的周期性排列,如何精準(zhǔn)識(shí)別多相混合物的相組成,如何定量分析晶格常數(shù)、晶粒尺寸與殘余應(yīng)力?XRD衍射系統(tǒng)正是這一領(lǐng)域最核心、最有力的分析工具。它以X射線為“探針”,探測(cè)材料內(nèi)部原子晶面的間距與排布,成為材料研發(fā)與質(zhì)量控制領(lǐng)域的“微觀之眼”。測(cè)量原理:布拉...
XRM應(yīng)用分享布魯克X射線部門王金波金屬增材制造(LPBF/EBM/DED等)依托逐層熔凝實(shí)現(xiàn)復(fù)雜輕量化結(jié)構(gòu)、隨形冷卻流道、點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)一體化制造,廣泛應(yīng)用航空航天、能源、醫(yī)療植入件、高級(jí)裝備。但工藝穩(wěn)定性差、內(nèi)部缺陷隱蔽、質(zhì)量一致性不足、缺少可靠微觀無(wú)損表征手段,長(zhǎng)期制約批量工業(yè)化落地。三維X射線顯微鏡(XRM)基于X射線斷層掃描重構(gòu),實(shí)現(xiàn)微米/亞微米級(jí)、非破壞、全三維內(nèi)部結(jié)構(gòu)可視化與定量測(cè)量,貫穿粉末原材料評(píng)價(jià)→工藝開發(fā)→成品質(zhì)檢→失效分析全鏈條,針對(duì)性解決行業(yè)主要痛點(diǎn)。1)...
釋光測(cè)試儀是輻射劑量學(xué)和考古測(cè)年領(lǐng)域的關(guān)鍵設(shè)備,其核心功能是測(cè)量礦物晶體(如石英、長(zhǎng)石)在受熱或受光激發(fā)時(shí)釋放的累積輻射能量。該技術(shù)廣泛應(yīng)用于考古學(xué)中的陶瓷/石器燒制年代測(cè)定、地質(zhì)學(xué)中的沉積物埋藏年齡研究,以及輻射劑量監(jiān)測(cè)中的事故劑量重建等場(chǎng)景。面對(duì)不同類型與配置的釋光測(cè)試系統(tǒng),如何依據(jù)科研或應(yīng)用需求做出合理選擇?本文以問答形式梳理要點(diǎn),供您參考。問題一:釋光測(cè)試儀的主要類型及其應(yīng)用場(chǎng)景?釋光測(cè)試儀根據(jù)激發(fā)方式主要分為兩類:熱釋光(TL)測(cè)試儀:通過程序升溫(通常從室溫至50...
應(yīng)用分享-晶體日記(三十一)布魯克X射線部門張振義上期梳理了Integration(積分處理)相關(guān)內(nèi)容,順著流程往下,就到Scale(標(biāo)度校正)部分。Integration涵蓋圖像處理與物理校正(LP校正)整套流程,重心是將肉眼可見的衍射圖譜轉(zhuǎn)化為數(shù)字化原始數(shù)據(jù);根據(jù)待解決問題的不同,可輸出.raw、.mul、.ram等格式原始文件。依托軟件界面實(shí)時(shí)反饋的處理進(jìn)程,能直觀判斷積分效果優(yōu)劣。原則上無(wú)明顯缺陷的數(shù)據(jù)集,經(jīng)Integration積分后,就能得到晶體結(jié)構(gòu)解析所需的衍射...
應(yīng)用分享-XRD模擬工況布魯克X射線部門孟璐在過去的二十年里,使用可充電鋰離子電池的微電子設(shè)備變得越來越普遍。隨著使用范圍的擴(kuò)大,對(duì)鋰離子電池的可靠性、功率密度和工作條件的要求也越來越高。為了實(shí)現(xiàn)可靠性和一致的功率密度,制造商對(duì)生產(chǎn)過程中使用的原材料有適當(dāng)?shù)馁|(zhì)量控制指標(biāo)至關(guān)重要。定量相分析(QPA)提供了陰極材料相組成的完整圖像——DIFFRAC.EVA和DIFFRAC.TOPAS為此提供了一個(gè)完整的解決方案,既易于使用,又可以集成到自動(dòng)工作流程中。了解微觀結(jié)構(gòu)對(duì)于制造機(jī)械穩(wěn)...
在現(xiàn)代制造的微觀世界里,真正決定產(chǎn)品性能的,往往不是材料的整體成分,而是其最表層幾十納米內(nèi)的元素分布與摻雜狀態(tài)。無(wú)論是半導(dǎo)體芯片的摻雜剖面、光伏電池的多層薄膜界面,還是航天材料的氧化腐蝕層,都需要一種能夠“看見”微量元素且具有高縱向分辨率的檢測(cè)手段。二次離子質(zhì)譜儀(SIMS),正是這樣一種被譽(yù)為材料表面分析“探針”的設(shè)備——它通過高能離子束轟擊樣品表面,將逸出的二次離子送入質(zhì)譜分析器,以ppm甚至ppb級(jí)的靈敏度,逐層解析材料的元素構(gòu)成,為前沿科研與精密制造揭開微觀世界的真相...
一、行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)隨著分析儀器行業(yè)的發(fā)展,X射線衍射儀的采購(gòu)需求已從“單一設(shè)備采購(gòu)”轉(zhuǎn)向“整體解決方案采購(gòu)”。用戶不僅需要一臺(tái)性能達(dá)標(biāo)的儀器,更需要從選型規(guī)劃、安裝部署、人員培訓(xùn)到日常運(yùn)維、方法升級(jí)的全周期服務(wù)支撐。在此背景下,具備多品牌代理能力、完善服務(wù)體系、可提供定制化方案的儀器服務(wù)商,逐步成為用戶的優(yōu)先選擇。這類服務(wù)商能夠跳出單一產(chǎn)品的局限,站在用戶實(shí)際需求的角度匹配方案,也更能適配不同行業(yè)、不同規(guī)模用戶的差異化需求。二、X射線衍射儀應(yīng)用邏輯X射線衍射儀屬于精密分析儀器,...
一、行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)隨著材料科學(xué)研究的持續(xù)深入,半導(dǎo)體薄膜、納米材料、復(fù)合材料、功能涂層等新興領(lǐng)域?qū)射線衍射表征提出了更多元的需求。除了基礎(chǔ)的物相定性定量分析,微區(qū)衍射、薄膜高精度表征、小角散射、高通量樣品篩選等測(cè)試需求正快速增長(zhǎng)。在此背景下,多晶X射線衍射儀正朝著模塊化、多功能、高分辨率的方向演進(jìn)。通過可靈活更換的光學(xué)組件、探測(cè)器與樣品臺(tái),單臺(tái)設(shè)備即可承載從基礎(chǔ)質(zhì)控到前沿研究的全流程表征工作,既能降低實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備采購(gòu)成本,也能提升研究工作的連貫性,成為科研院所與企業(yè)研發(fā)中心的...
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