技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES布魯克X射線部門朱性齊薄膜是器件的一種表現(xiàn)形式。多晶薄膜宏觀應(yīng)力的測試需求越來越多。下面總結(jié)了兩種多晶薄膜的宏觀應(yīng)力測試方法。一、薄膜應(yīng)力測試方法一通過掠入射X射線衍射(GID)的方法獲得5個以上衍射峰的峰位置，然后以應(yīng)變strain為縱軸，以sin2ψ為橫軸，使用Leptos軟件擬合后得到應(yīng)力值。這種測試方法對儀器硬件的要求是可以滿足GID測試即可（次級光路有一個赤道索拉+探測器具有0維模式即可滿足，主光路使用發(fā)散狹縫或者Goebel鏡均可）。以Fe基底上的TiCrN鍍層為...
布魯克X射線部門王金波時光倏忽，2026上半年已結(jié)束，2026年下半年曙光將至?；赝麃砺?，每一次突破皆如竹拔節(jié)；展望新程，更需“百尺竿頭，更進(jìn)一步”般的深耕探索。而三維X射線顯微鏡（XRM），正是助力科研人穿透表象、直抵重心，在微觀世界再攀新高的硬核“攀登杖”。一、如竹之“透”：無損穿透，直抵重心竹質(zhì)堅韌卻透光見中空，XRM同樣具備這般穿透之力。依托先進(jìn)X射線成像技術(shù)，無需破壞即可穿透樣品，直達(dá)微觀中心，完整保留樣品狀態(tài)，精確支撐工業(yè)缺陷排查與科研精細(xì)觀察?！剪斂薠RM獲取...
在半導(dǎo)體芯片的納米級互連層中，在催化劑活性位點的原子排列中，在腐蝕防護(hù)涂層與基體金屬的結(jié)合界面上，隱藏著決定材料性能的密碼。傳統(tǒng)分析技術(shù)往往受限于探測深度，難以觸及這些至關(guān)重要的表層信息。此時，俄歇電子能譜儀便以其表層靈敏度和元素識別能力，成為材料科學(xué)家探索表面微觀世界的“原子探針”。什么是俄歇電子能譜儀？俄歇電子能譜儀是一種基于俄歇效應(yīng)的表面分析技術(shù)。當(dāng)入射電子束轟擊樣品表面時，內(nèi)層電子被激發(fā)形成空穴，外層電子躍遷填補空穴并釋放出多余能量，這部分能量促使第二個外層電子電離發(fā)...
隨著新材料研發(fā)、半導(dǎo)體制程升級、生物醫(yī)藥研究向分子級縱深推進(jìn)，樣品表面與界面的成分、結(jié)構(gòu)表征逐漸成為技術(shù)突破的核心環(huán)節(jié)。在眾多表面分析技術(shù)中，飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）憑借超高靈敏度、納米級空間分辨率與三維分析能力，成為微觀表征領(lǐng)域的核心設(shè)備，廣泛應(yīng)用于科研與工業(yè)檢測場景。一、什么是TOF-SIMS質(zhì)譜儀TOF-SIMS全稱為飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（Time-of-FlightSecondaryIonMassSpectrometry），是一種高分辨的表面分析技...
在半導(dǎo)體與材料科學(xué)的精密世界里，有一項技術(shù)如同“元素偵Tan”，能夠捕捉到材料中億分之一級別的痕量元素——這就是動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）。今天，讓我們一同走進(jìn)這項尖端技術(shù)，并了解束蘊儀器（上海）有限公司如何將其引入中國市場，助力國內(nèi)科研與產(chǎn)業(yè)發(fā)展。什么是動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀？動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（DynamicSecondaryIonMassSpectrometry，簡稱D-SIMS）是一種用于固體材料成分分析的高靈敏度表面分析技術(shù)。它通過對材料表面進(jìn)行逐層剝離并實時分...
在半導(dǎo)體晶圓、鋰電池極片或精密合金材料的質(zhì)檢環(huán)節(jié)，低電阻率測試儀是關(guān)鍵設(shè)備。很多采購人員在選型時，第一眼往往只盯著參數(shù)表中的“最小量程”，認(rèn)為能測到毫歐甚至微歐級別就是好儀器。然而，低電阻測試是一門極易受干擾的精密藝術(shù)。量程只是“視力”，而抗干擾能力才是“視力矯正”。如果忽視了測試電流、探針壓力和溫度補償這三個隱形陷阱，測出來的數(shù)據(jù)往往只是“數(shù)字游戲”，根本無法反映材料的真實性能。陷阱一：測試電流為了測準(zhǔn)低電阻，儀器通常會輸出一個大電流（如1A、10A甚至更高），利用歐姆定律...
在集成電路制造流程中，晶圓表面哪怕微米級的劃傷、顆粒污染或薄膜缺陷，都可能導(dǎo)致芯片電路斷路或短路，造成良率損失。晶圓片在線面掃檢測儀正是針對這一痛點設(shè)計的自動化光學(xué)檢測設(shè)備。它摒棄了傳統(tǒng)的逐點掃描模式，采用高分辨率面陣相機與精密運動平臺協(xié)同工作，對晶圓表面進(jìn)行高速的“全景拍照”，是半導(dǎo)體前道制程中保障工藝穩(wěn)定性和提升良率的關(guān)鍵防線。晶圓片在線面掃檢測儀的核心技術(shù)在于“高速成像”與“智能識別”的結(jié)合。設(shè)備通常集成在晶圓傳輸系統(tǒng)（EFEM）中，實現(xiàn)全自動化上下料。檢測時，晶圓被吸...
在新能源電池、制藥結(jié)晶及先進(jìn)陶瓷生產(chǎn)中，晶型（晶相）直接決定產(chǎn)品的純度、活性、穩(wěn)定性與電化學(xué)性能。傳統(tǒng)離線XRD（X射線衍射儀）需人工取樣、制樣、送入實驗室等待結(jié)果，耗時數(shù)小時，無法捕捉結(jié)晶過程的瞬時變化，難以及時干預(yù)工藝偏差。在線X射線衍射儀通過原位、無損、連續(xù)的衍射數(shù)據(jù)采集，像一雙“透視眼”實時監(jiān)測反應(yīng)器內(nèi)物相演變，為工業(yè)結(jié)晶工藝優(yōu)化、晶型轉(zhuǎn)化控制及連續(xù)流生產(chǎn)提供秒級反饋。工作原理與技術(shù)特點在線XRD基于布拉格衍射定律（nλ=2dsinθ）：高能X射線穿透反應(yīng)器視窗照射樣...
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